赫爾納供應(yīng)英國(guó)peak半導(dǎo)體分析儀DCA75

赫爾納供應(yīng)英國(guó)peak半導(dǎo)體分析儀DCA75

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢(shì)供應(yīng),英國(guó)總部直接采購(gòu)，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品，為您提供一對(duì)一好的解決方案，貨期穩(wěn)定。

公司簡(jiǎn)介：

Peak Electronic Design Ltd 以設(shè)計(jì)和制造電子測(cè)試設(shè)備。我們有的供應(yīng)品均來(lái)自英國(guó)制造商。此外，我們有的制造流程均在英國(guó)進(jìn)行，因此我們可以密切關(guān)注從設(shè)計(jì)到制造、校準(zhǔn)、測(cè)試和包裝的有步驟。

peak半導(dǎo)體分析儀主要產(chǎn)品：

peak半導(dǎo)體分析儀

Peak開(kāi)關(guān)分析儀

peak半導(dǎo)體分析儀產(chǎn)品型號(hào)：

DCA75

DCA55

peak半導(dǎo)體分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

分析儀類(lèi)型： 半導(dǎo)體元件。

元件檢測(cè)： 自動(dòng)的。

引腳排列檢測(cè)： 自動(dòng)，任意方向連接。

顯示類(lèi)型： 圖形 LCD（現(xiàn)為背光）。

接口類(lèi)型： USB 用于可選的 PC 連接。

peak半導(dǎo)體分析儀產(chǎn)品應(yīng)用：

peak半導(dǎo)體分析儀DCA75 是一款儀器，可用于識(shí)別和測(cè)試各種半導(dǎo)體元件。只需以任意方式連接！ DCA75 將執(zhí)行以下操作：顯示元件類(lèi)型（如N-CH MOSFET、達(dá)林頓晶體管等）。

peak半導(dǎo)體分析儀顯示組件引腳排列（如漏極、源極、柵極等）。在電腦上繪制特性曲線(xiàn)。內(nèi)置圖形顯示器（現(xiàn)在有背光）顯示您正在測(cè)試的組件的詳細(xì)示意圖以及引腳排列和測(cè)量數(shù)據(jù)。USB 連接允許在上進(jìn)行曲線(xiàn)追蹤、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)/檢索和設(shè)備匹配。單個(gè)內(nèi) AAA 堿性電池可獨(dú)立操作。

peak半導(dǎo)體分析儀DCA75半導(dǎo)體元件分析儀。USB 閃存驅(qū)動(dòng)器上的適用于軟件。Micro USB 線(xiàn)。適合通用優(yōu)質(zhì)鉤形探頭。AAA 堿性電池如果鍺晶體管的漏電流高（例如由于手指變熱），DCA75 可以拒絕“正確"的引腳排列。但是，它會(huì)搜索設(shè)備類(lèi)型和配置。peak半導(dǎo)體分析儀在這種情況下，它可以找到相反類(lèi)型（NPN/PNP）且 CE 互換的晶體管（盡管增益可能低）。在簡(jiǎn)單電路中進(jìn)行的測(cè)試證實(shí)，您可以讓鍺晶體管以這種方式工作并獲得一些增益。因此 DCA75 沒(méi)有錯(cuò)，它只是找到了一種產(chǎn)生低漏電流的配置,在測(cè)試期間保持晶體管冷卻以避免這種情況。peak半導(dǎo)體分析儀DCA75 可以測(cè)試達(dá) 11V 左右的齊納二極管。反向電壓低于 8V 左右的齊納二極管將在 5mA 下進(jìn)行測(cè)試，電壓較高的齊納二極管可以在低的測(cè)試電流下進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試電流在顯示屏上確認(rèn)。DCA75 會(huì)顯示“未找到組件"。peak半導(dǎo)體分析儀有時(shí)它仍可能能夠看到您正在測(cè)試的組件內(nèi)的 pn（二極管）結(jié)，在這種情況下它會(huì)顯示“二極管或二極管結(jié)"。如果您的組件內(nèi)有短路，則 DCA75 將顯示“紅色綠色短路"穩(wěn)壓器電壓需要在 8V 左右或更低才能進(jìn)行測(cè)試。其次，有些穩(wěn)壓器不穩(wěn)定，它們?cè)陬A(yù)期電路中使用去耦電容和合適的負(fù)載。

peak半導(dǎo)體分析儀DCA55-Atlas DCA半導(dǎo)體分析儀?？扇我膺B接！ DCA55 隨后在其背光字母數(shù)字顯示屏上顯示以下內(nèi)容：元件類(lèi)型分布信息參數(shù)測(cè)量晶體管 MOSFET、JFET（僅可識(shí)別柵極引腳）、二極管、LED 等。peak半導(dǎo)體分析儀自動(dòng)識(shí)別元件類(lèi)型、引腳排列和其他重要參數(shù)?，F(xiàn)在具有晶體管漏電測(cè)量和鍺/硅識(shí)別功能。